薄层点样技术的几个问题 |
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作者姓名: | 邹掀平 余光旭 |
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作者单位: | 华中师范大学有机合成研究所 武昌(邹煜平),华中师范大学有机合成研究所 武昌(余光旭) |
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摘 要: | 在薄层技术中,点样是造成定量误差的主要来源。除不同的点样器会导致结果的系统偏差外,由于个人操作熟练程度,规范化程度的差异也会使定量结果有很大变动。本文以美国Drummond公司出品的定量点样玻璃毛细管取样器为例。谈谈薄层点样技术中一般很容易忽略的几个问题。
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关 键 词: | 薄层色谱 点样 |
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