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用二氧化钛、二氧化硅和氟化镁膜料镀制0.4μm~1.1μm超宽带增透膜
引用本文:谭宇,梁宏军,刘永强,赵兴梅.用二氧化钛、二氧化硅和氟化镁膜料镀制0.4μm~1.1μm超宽带增透膜[J].应用光学,2007,28(5):623-626.
作者姓名:谭宇  梁宏军  刘永强  赵兴梅
作者单位:1. 西安应用光学研究所,陕西,西安,710065
2. 西安通信学院,数理教研室,陕西,西安,710106
摘    要:对0.4μm~1.1μm超宽带增透膜的镀制工艺进行了研究。根据长期从事该工作的经验和对膜料性能的研究,结合国产设备的实际情况,在膜料的选取上主要考虑其透明光谱区域、折射率、材料的蒸发方式、机械特性、化学稳定性及抗高能辐射等因素;最终选择用二氧化钛、二氧化硅和氟化镁3种常用膜料镀制0.4μm~1.1μm超宽带增透膜。涉及该膜系的膜层共有8层,结构为:玻璃■H■M■H■M■H■M■H■L■空气■。制作工艺方便简单、稳定,制做的膜层具有较好的光谱和机械性能,满足光电仪器实际使用要求。

关 键 词:膜厚  膜层折射率  宽光谱  镀膜材料
文章编号:1002-2082(2007)05-0623-04
修稿时间:2006年10月20

0. 4 μm~1.1 μm AR film prepared with TiO2, SiO2 and MgF2
TAN Yu,LIANG Hong-jun,LIU Yong-qiang,ZHAO Xing-mei.0. 4 μm~1.1 μm AR film prepared with TiO2, SiO2 and MgF2[J].Journal of Applied Optics,2007,28(5):623-626.
Authors:TAN Yu  LIANG Hong-jun  LIU Yong-qiang  ZHAO Xing-mei
Abstract:
Keywords:film thickness  refractive index of layer  wide spectrum  film material
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