测控系统内部典型器件EFT干扰辐射特性研究 |
| |
引用本文: | 丁永平,刘超,王洪亮,党丽,郭艳辉.测控系统内部典型器件EFT干扰辐射特性研究[J].安全与电磁兼容,2014(1). |
| |
作者姓名: | 丁永平 刘超 王洪亮 党丽 郭艳辉 |
| |
作者单位: | 中国兵器工业新技术推广研究所;哈尔滨隆威煤矿安全高新技术有限公司;中国船舶重工集团公司第703研究所; |
| |
摘 要: | 介绍了电磁继电器、电感线圈、细长导线等测控系统内部存在的典型器件在开关动作瞬间产生的EFT辐射的干扰特性。运用非均匀网格FDTD法建立了典型器件的辐射模型,分析了主要参数变化对辐射特性的影响,并针对各种典型器件的辐射特性,提出了相应的干扰抑制方法。
|
关 键 词: | 非均匀网格FDTD法 电快速瞬变脉冲群 辐射特性 抑制措施 |
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|