费用约束下产品寿命试验与退化试验优化 |
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作者单位: | ;1.国防科技大学系统工程学院;2.南部战区75831部队 |
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摘 要: | 针对Wiener退化失效型产品寿命试验与退化试验优化问题,以Wiener过程和逆高斯分布为依据,用分位寿命渐近方差作为可靠性指标进行了分析.首先比较了退化试验与定时截尾寿命试验的试验设计变量之间关系.然后考虑实际情况,研究试验费用有限情况下,寿命试验和退化试验分别达到渐近方差最小时的最优试验方案设计,发现退化试验的效率高于寿命试验.研究为小子样条件下长寿命产品可靠性试验设计提供了依据.
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关 键 词: | Wiener退化过程 寿命试验 退化试验 优化 |
Optimization of Product Life Test and Degradation Test under Cost Constraints |
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