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X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展
引用本文:杨传铮,张建.X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展[J].物理学进展,2008,28(3).
作者姓名:杨传铮  张建
作者单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
基金项目:国家自然科学基金,上海市科委科研计划 
摘    要:本文在简单评叙过去常用于金属材料中晶粒(嵌镶块)大小和微观应变的X射线衍射线形分析方法(分离微晶-微应变二重宽化效应的Fourier分析、方差分析和近似函数三种方法)之后,介绍了作者及合作者近年来发展和建立的分离微晶微应变、微晶层错、微应变-层错二重宽化效应和分离微晶-微应力层错三重宽化效应的-般理论、最小二乘方法和计算程序系列。然后把这些方法用于评价各种典型纳米材料微结构的研究。它们包括:(1)贮氢合金MmB5;(2)面心立方结构纳米NiO的分析,获得微结构参数与热分解温度的关系;(3)体心立方结构的uTi基合金在吸放氢过程中的结构变化;(4)用来研究镍氢电池活化前后正极伊Ni(OH)2的微结构时,对一般方法作简化,从而了解了β-Ni(OH)2在镍氢电池中充放电过程和电池循环过程中的行为;(5)六方纳米ZnO的微结构研究和添加Ca、Sr和混合稀土的Mg-Al合金中的微结构研究;(6)还用于六方(2H)石墨堆垛无序度的测定。 实际应用发现,对不同的纳米材料合理应用分离X射线衍射多重宽化效应的一般理论和方法显得十分重要。 实际应用还发现,所提出的分离多重宽化效应的方法,能用于评价和研究纳米材料及其在使用过程微结构的变化,从而把材料性能与微结构参数联系起来,建立性能与结构之间的关系,并已获得不少有益结果。

关 键 词:纳米材料  微结构  微晶形状和大小  微应变(力)  堆垛层错  XRD  最小二乘方法  计算程序

SOME PROGRESS IN RESEARCHING OF NANO-METER MATERIALS BY X-RAY DIFFRACTION
YANG Chuan-zheng,ZHANG Jian.SOME PROGRESS IN RESEARCHING OF NANO-METER MATERIALS BY X-RAY DIFFRACTION[J].Progress In Physics,2008,28(3).
Authors:YANG Chuan-zheng  ZHANG Jian
Abstract:
Keywords:XRD
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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