光缆试验过程中的波长相关附加损耗:不同G.655光纤与标准G.652光纤的直接对比 |
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引用本文: | 吴静.光缆试验过程中的波长相关附加损耗:不同G.655光纤与标准G.652光纤的直接对比[J].光纤光缆传输技术,2007(1):12-16. |
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作者姓名: | 吴静 |
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摘 要: | 通过使含有G.655光纤和标准G.652光纤的标准管道光缆经受可产生明显损耗增加的温度、拉伸和心轴。面板压扁试验,挪威Telenor公司的技术人员研究和比较了一系列G.655光纤与标准G.652光纤的弯曲性能。他们测量了试验过程中附加损耗与波长的关系。揭示出不同光纤的弯曲性能有很大差别。标准G.652光纤在所有试验中都被证明是等级排列最佳的光纤。
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关 键 词: | 光纤 光缆 G.655 G.652 试验 损耗 |
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