摘 要: | 最近发展起来的X-射线光电子能谱(XPS)技术在研究配合物的电荷转移问题方面显示了独特的作用。此外,XPS也用于研究稀土元素及其化合物的内壳和价带谱、混合价带谱以及伴峰现象。研究配合物的XPS有助于了解中心金属内壳层的电子状态以及与之相结合配体的电子状态,同时可提供电荷转移的信息。因此,XPS为研究配位键是否形成提供了一种非常有用的手段,特别是对于难于培养成单晶的配合物中配位键的研究提供了方法。本文报道了铈(Ⅳ)盐与吡啶类-N-氧化物的八种新配合物的XPS研究,同时讨论了甲基在吡啶氮氧化物中的取代位置不同对化学位移所产生的影响。
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