| ARL—3520AES电感耦合等离子体发射光谱仪疑难故障的分析与排除 |
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| 引用本文： | 方跃平,徐盈. ARL—3520AES电感耦合等离子体发射光谱仪疑难故障的分析与排除[J]. 分析测试技术与仪器, 1996, 2(1): 45-49 |
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| 作者姓名： | 方跃平 徐盈 |
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| 作者单位： | 中国科学院水生生物研究所 |
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| 摘 要： | 介绍了在瑞士ＡＲＬ公司生产的ＩＣＰ－３５２０ＡＥＳ型电感耦合等离子体原子发射光谱仪上存在的一种疑难故障的分析与排除过程，对同类型仪器的故障分析有借鉴作用。
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| 关 键 词： | ICP－AES 故障 微处理器 发射光谱 |
| 收稿时间： | 1995-11-15 |
Trouble Shooting and Fixing of Knotty Breakdown of ARL ICP-3520AES |
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| Fang Yueping and Xu Ying. Trouble Shooting and Fixing of Knotty Breakdown of ARL ICP-3520AES[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 1996, 2(1): 45-49 |
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| Authors: | Fang Yueping and Xu Ying |
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| Affiliation: | Institute of Hydrobiology, Chinese Academy of Sciences, Wuhan 430072;Institute of Hydrobiology, Chinese Academy of Sciences, Wuhan 430072 |
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| Abstract: | The shooting and fixing of the knotty breakdown of a ARL ICP-3520AES is described. |
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| Keywords: | ICP-3520AES Breakdown Microprocessor Signal |
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