| 光子计数成像研究 |
| |
| 引用本文： | 寇松峰,陈钱,顾国华,季尔优. 光子计数成像研究[J]. 应用光学, 2008, 29(5): 675-678 |
| |
| 作者姓名： | 寇松峰 陈钱 顾国华 季尔优 |
| |
| 作者单位： | 南京理工大学,电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094 |
| |
| 基金项目： | 解放军总装备部预研项目 |
| |
| 摘 要： | 从APD阵列的响应特性出发，利用随机点的统计学描述，建立了光子计数成像的一维点过程数学模型。通过对光子事件发生时间统计特性的描述，分析了光子密度、门控时间、雪崩光电二极管恢复时间等因素对光子计数成像质量的影响。并采用蒙特卡罗方法，对近红外波段不同光子密度条件下多种计数间隔的成像质量进行了仿真，给出了仿真结果。
|
| 关 键 词： | 子计数成像 雪崩光电二极管阵列 泊松点过程 蒙特卡罗仿真 |
| 收稿时间： | 2007-11-23 |
| 修稿时间： | 2008-01-29 |
Research on photon counting imaging technology |
| |
| KOU Song-feng,CHEN Qian,GU Guo-hua,JI Er-you. Research on photon counting imaging technology[J]. Journal of Applied Optics, 2008, 29(5): 675-678 |
| |
| Authors: | KOU Song-feng CHEN Qian GU Guo-hua JI Er-you |
| |
| Affiliation: | School of Electronic Engineering and Optoelectronics Technology, Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | photon counting imaging avalanche photodiode array Poisson point process Monte Carlo simulation |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《应用光学》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《应用光学》下载全文 |
|
