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HL—1装置放电坪区小破裂现象分析
引用本文:严龙文,石秉仁.HL—1装置放电坪区小破裂现象分析[J].核聚变与等离子体物理,1991,11(1):9-15.
作者姓名:严龙文  石秉仁
作者单位:核工业西南物理研究院,核工业西南物理研究院,核工业西南物理研究院,核工业西南物理研究院,核工业西南物理研究院 四川,成都,四川,成都,四川,成都,四川,成都,四川,成都
摘    要:HL-1装置上观测到大量放电破裂现象,其中一类出现在电流坪段的小破裂现象,在文献上讨论很少,其产生时的安全因子是2.5≤q_a≤4.5,密度为1×10~(13)cm~(-3)≤n<3×10~(13)cm~(-3)或n≥4×10~(13)cm~(-3), 在环压及软X射线上观测到几百毫秒的驰豫振荡。本文详细分析了这类现象的性质及特征,并讨论了其产生的原因。

关 键 词:HL-1装置  放电坪区  破裂  弛豫振荡

ANALYSES OF MINOR DISRUPTIONS DURING CURRENT FLAT PHASE IN THE HL-1 DEVICE
YAN Loagwen SHI Bingren ZHENG Yongzhen PENG Liling HUANG Keqiang.ANALYSES OF MINOR DISRUPTIONS DURING CURRENT FLAT PHASE IN THE HL-1 DEVICE[J].Nuclear Fusion and Plasma Physics,1991,11(1):9-15.
Authors:YAN Loagwen SHI Bingren ZHENG Yongzhen PENG Liling HUANG Keqiang
Abstract:
Keywords:Minor disruptions during current flat phase  Relaxation oscillation  Density limit  Modelock  
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