光斑矩参数阵列测试法的测量不确定度 |
| |
作者姓名: | 高学燕 苏毅 何均章 袁学文 谢川林 周殿华 关有光 傅淑珍 |
| |
摘 要: | 光斑强度分布的测试在目标跟踪检测、激光光束质量诊断和激光束波前测量等方面具有重要:意义。常用的光斑测试法有面阵CCD法、线阵CCD扫描法、单元探测器扫描法、热敏纸法以及针对某些特殊应用的各具特色的阵列测试设备法。这些方法最终都将给出探测面上光斑强度二维离散分布数据,故都可等效为阵列测试法。
|
关 键 词: | 光斑 强度分布 矩参数阵列测试法 不确定度 离散分布 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|