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| 一种完整测量膜片法拉第效应和损耗的方法 | |
| 作者姓名： | 陈信伟 邱复生 刘铁根 |
| 作者单位： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072;西安交通大学理学院应用物理系,西安,710049 |
| 基金项目： | 中国航空工业第一集团公司西安飞行自动控制研究所项目 |
| 摘 要： | 提出了一种能完整测量零锁区激光陀螺法拉第偏频组件中旋光膜片的法拉第旋光效应和超低损耗的方法和自动测量系统.该方法利用双光路正交分解平衡测量原理,通过测量两束光光强平衡时起偏器的偏振方向来确定旋光膜片的法拉第转角和超低损耗.测量结果表明：系统对法拉第转角的测量分辨率小于0.9″,损耗测量分辨率为10ppm.环境温度的波动对法拉第转角的测量变化很小,但对膜片超低损耗测量影响很大,温度变化8.1K,膜片损耗测量值变化一个周期.实验及结果证明,该系统能满足超高精度测量的要求. |
| 关 键 词： | 光学测量 零锁区激光陀螺 法拉第偏频组件 膜片 法拉第效应 超低损耗 |
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