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V—SiO2中二氧化锗掺杂引起的缺陷变化的Raman谱研究

引用本文：	肖年,徐知三.V—SiO2中二氧化锗掺杂引起的缺陷变化的Raman谱研究[J].光散射学报,1989,1(2):43-48.

作者姓名：	肖年徐知三

摘要：
关键词：	钒氧化锗掺杂玻璃缺陷氧化硅
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