离子注入掺铒硅发光中心的光致发光研究 |
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引用本文: | 雷红兵,杨沁清,王启明,周必忠,肖方方,吴名枋.离子注入掺铒硅发光中心的光致发光研究[J].半导体学报,1998,19(5):332-336. |
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作者姓名: | 雷红兵 杨沁清 王启明 周必忠 肖方方 吴名枋 |
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作者单位: | 中国科学院半导体研究所,厦门大学物理系,北京大学技术物理系,集成光电子国家重点实验室 |
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摘 要: | 本文详细地分析了离子注入掺铒硅的光致发光谱,有5个发光峰分别位于1.536μm、1.554μm、1.570μm、1.598μm和1.640μm,其中1.536μm发光峰最强.结合背散射谱,认为其有效的发光中心为处于Td对称中心的填隙铒Er3+离子.在Er与O、N、C共掺样品应分别存在Er-O、Er-N和Er-C发光中心,其对应的PL发光峰分别为1.570μm、1.536μm和1.608μm.
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