| 提高原子力显微镜（AFM）成像质量的方法 |
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| 引用本文： | 冯璐.提高原子力显微镜（AFM）成像质量的方法[J].大学物理实验,2009,22(2):1-4. |
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| 作者姓名： | 冯璐 |
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| 作者单位： | 北京理工大学,北京,100081 |
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| 摘 要： | 针对原子力显微镜AFM不要求样品具有导电性的优点,分析了影响原子力显微镜AFM扫描图像质量的原因及提高AFM成像质量的方法。
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| 关 键 词： | 原子力显微镜（AFM） 图像质量 |
ENHANCE ATOMIC FORCE MICROSCOPE(AFM) IMAGING QUALITY |
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| Feng Lu.ENHANCE ATOMIC FORCE MICROSCOPE(AFM) IMAGING QUALITY[J].Physical Experiment of College,2009,22(2):1-4. |
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| Authors: | Feng Lu |
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| Institution: | Beijing University of Science and Technology;Beijing;100081 |
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| Abstract: | For atomic force microscopy AFM does not require conductive samples.The impact of scanning images of the causes and improve the quality of AFM imaging are discussed. |
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| Keywords: | Atomic Force Microscopy （ AFM ） imaging quality |
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