| 用扫描隧道显微镜(STM)观察纳米粉体的形貌 |
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| 引用本文： | 熊正烨,丘翠环,张鸿,林小平,吴弈初. 用扫描隧道显微镜(STM)观察纳米粉体的形貌[J]. 物理实验, 2000, 20(6): 3-4 |
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| 作者姓名： | 熊正烨 丘翠环 张鸿 林小平 吴弈初 |
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| 作者单位： | 1. 中山大学物理系,广州,510275
2. 广东药学院,广州,510224 |
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| 摘 要： | 将不导电的纳米粉体压成薄片，在薄片的表面溅射上金膜，再经过适当的处理，将薄片固定在样品台上，这样制得样品可用于纳米粉体形貌，由于用于ＳＴＭ观察的样品必须导电这一限制，使得样品表面溅射的金膜厚度对成像有很大影响，此类工作可安排在学生物理实验的小型科研实验课程中。
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| 关 键 词： | 扫描隧道显微镜 纳米材料 实验教学 |
| 修稿时间： | 1999-10-15 |
Observing the pattern of nano-particle with scanning tunneling microscopy |
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| Xiong Zhengye. Observing the pattern of nano-particle with scanning tunneling microscopy[J]. Physics Experimentation, 2000, 20(6): 3-4 |
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| Authors: | Xiong Zhengye |
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