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低温辐射计光功率修正因子测试与分析EI北大核心CSCD
作者姓名:史学舜  庄新港  王国权  刘红波  张鹏举  刘长明  周金戈
作者单位:1.中国电子科技集团公司第四十一研究所266555;2.国防科技工业光电子一级计量站266555;3.电子测试技术重点实验室266555;
基金项目:Key Research and Development Program of Anhui Province of China (No. 201904a07020073);Science and Technology Foundation of China (No. JSJL2020210A001)。
摘    要:为了确保低温辐射计测量准确度,开展了低温辐射计光功率修正因子的研究。介绍了低温辐射计测试系统光路结构和光功率的测量过程。分析了影响低温辐射计光电加热等效替代的四个主要因素。利用搭建的影响因子测试装置,对布儒斯特窗口透过率、杂散光和黑体腔吸收率三个影响因子进行了测试;采用有限元分析方法,对光电加热不等效性因子进行了仿真计算。测试和仿真计算了自主研制低温辐射计光电加热等效替代修正因子,结果显示,布儒斯特窗口在632.8 nm处的透过率为0.996817,杂散光修正因子为0.999013,黑体腔吸收率为0.999950,光电不等效性修正因子为1.009240±0.000010。该研究结果可用于低温辐射计的修正,对低温辐射计各功能模块的设计、测量不确定度的提高以及低温辐射计的研制具有一定参考价值。

关 键 词:光辐射绝对测量  低温辐射计  有限元分析法  修正因子分析
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