| 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定粗铅中的Cu，As，Sb，Bi 4种元素 |
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| 引用本文： | 沈 琳,孙福红,栾海光.电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定粗铅中的Cu，As，Sb，Bi 4种元素[J].中国无机分析化学,2013,3(4):56-58. |
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| 作者姓名： | 沈 琳 孙福红 栾海光 |
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| 作者单位： | 北京矿冶研究总院 |
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| 摘 要： | 建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定粗铅中Cu,As,Sb,Bi 4种元素的定量分析方法。通过实验选择327.395,193.696,187.052,223.061nm分别作为Cu,As,Sb,Bi的分析谱线,方法的检出限均小于0.010μg/mL。方法的回收率在96%~104%,精密度实验结果表明,相对标准偏差（RSD,n=6）均小于3%,能满足日常分析对粗铅中杂质元素的快速检测要求。
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| 关 键 词： | 粗铅 ICP-AES 多元素 同时测定 |
| 收稿时间： | 7/6/2013 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2013/7/26 0:00:00 |
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