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柱式平板声子晶体点缺陷模式研究
引用本文:黄翔宇,刘永顺,舒风风,武俊峰,吴一辉.柱式平板声子晶体点缺陷模式研究[J].压电与声光,2017,39(2):198-201.
作者姓名:黄翔宇  刘永顺  舒风风  武俊峰  吴一辉
作者单位:(1.中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室, 吉林 长春 130033;2.中国科学院大学,北京 100049)
基金项目:“八六三”计划基金资助项目(2015AA042603);国家自然科学基金资助项目(51505456);吉林省科技发展计划基金资助项目(20140101057JC,20150520110JH);吉林省“双十工程”重大科技攻关基金资助项目(201402011GX);吉林省省级经济结构战略调整引导资金专项基金资助项目(2015Y028)
摘    要:柱式平板声子晶体结构有利于实现质量加载和液相检测,该文提出并制备一种柱式平板声子晶体点缺陷。采用有限元法进行禁带计算分析,仿真出该声子晶体点缺陷模式的振型。采用微机电系统(MEMS)工艺制备出硅基AlN声波传感器,通过电极构型的模式选择对选定点缺陷模式的性能进行了测试分析。结果表明,通过合理设计激励电极可获得较高频率声子晶体点缺陷模式。实验中选择激发的模式频率为7.732 MHz,其对应空气中品质因数Q=700,这为实现液相检测提供了理论基础和实验依据。

关 键 词:声子晶体  柱式平板  点缺陷  选择性激励  工艺加工

Research on Point Defect Mode of Pillar Plate Phononic Crystal
HUANG Xiangyu,LIU Yongshun,SHU Fengfeng,WU Junfeng,WU Yihui.Research on Point Defect Mode of Pillar Plate Phononic Crystal[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2017,39(2):198-201.
Authors:HUANG Xiangyu  LIU Yongshun  SHU Fengfeng  WU Junfeng  WU Yihui
Institution:(1.State Key Lab. of Applied Optics,Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun 130033,China; 2. University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China)
Abstract:
Keywords:phononic crystal  pillar plate  point defect  selective incentive  processing
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