精确测定液晶双折射率及其色散的多光束干涉方法 |
| |
引用本文: | 何雪华, 张合义. 精确测定液晶双折射率及其色散的多光束干涉方法[J]. 物理, 1981, 10(2). |
| |
作者姓名: | 何雪华 张合义 |
| |
作者单位: | 北京大学物理系 |
| |
摘 要: | 液晶是目前显示器件的重要材料.向列型液晶在其光学性质上类似单轴晶体.液晶的随波长改变的双折射率是基本的物理常数之一.测量液晶的双折射率及其色散的方法,主要有折射法与干涉法.而在测量双折射率的色散方面,干涉法要比折射法简便得多.干涉法所测得的是光程,即noh,neh以及光程差(ne-no)h.其中ne与no是液晶的折射率,而h是干涉仪中液晶层的厚度.介绍用干涉法测液晶双折射率的文献不少[1,2],?...
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
| 点击此处可从《物理》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《物理》下载全文 |
|