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大面积高温超导薄膜临界温度无损伤测试
引用本文:马永昌,周铁戈,阎少林,何明,路荣涛,方兰,赵新杰.大面积高温超导薄膜临界温度无损伤测试[J].低温物理学报,2003,25(Z1):151-154.
作者姓名:马永昌  周铁戈  阎少林  何明  路荣涛  方兰  赵新杰
作者单位:南开大学电子科学系,天津,300071
摘    要:我们设计并制作了高温超导薄膜无损伤超导转变温度Tc测试系统, 可以在直径2英寸范围内同时测量13个位置上的Tc.测试过程中可以用图形或数字监视薄膜的超导转变,方便可靠.系统采用液氮制冷,测试速度快,测量误差约±0.2K.对于直径2英寸或小于2英寸薄膜的Tc,本系统是一套实用可靠的测量设备.


NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF CRITICAL TEMPERATURE FOR LARGE-AREAR HTSC THIN FILMS
Abstract:
Keywords:
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