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| 随着特性/环境测试技术的不断发展晶体管的特性也在改变 | |
| 引用本文： | 陶琦.随着特性/环境测试技术的不断发展晶体管的特性也在改变[J].电子设计应用,2004(6):38-38. |
| 作者姓名： | 陶琦 |
| 摘 要： | 芯片的自行调整功能正在不断开发之中。NEC公司开发了测试时间抖动的技术(见图A-4)。在芯片实际工作时可以测出抖动。NEC的水野表示:为避免错误动作,可用抖动的强度信号选择工作状态。该公司还开发了一项技术,可以在芯片工作时测试各种信号。九州工业大学微型综合技术中心助理教授有马裕先生研发了称为VS-MOS(variable channel size MOS)的新技术,即可以在制造晶体管后,控制其增益系数(b)(见图A-5)。这里有一个总线和接口输入输出电路的应用。该技术可以根据连接总线的装置数量以及连接印刷电路板的种类,动态地改变负载和阻抗,同时,… |
| 关 键 词： | 特性 环境测试技术 晶体管 NEC公司 时间抖动技术 驱动能力 增益系数 |
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