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氯霉素在Pt/GC离子注入修饰电极上的伏安行为及其测定
引用本文:胡劲波,尚军,李启隆. 氯霉素在Pt/GC离子注入修饰电极上的伏安行为及其测定[J]. 分析试验室, 2000, 19(1): 27-29
作者姓名:胡劲波  尚军  李启隆
作者单位:北京师范大学化学系,北京,100875
基金项目:国家自然科学基金!(No.29875003),教育部博士点基金!(No.98102709)
摘    要:氯霉素在浓度为0.1 m ol/L 的NaOH 溶液中,Pt/GC 离子注入修饰电极上有一还原峰,峰电位为 - 0.80 V(vs.SCE),氯霉素的浓度在 1.0×10- 5~1.0×10- 3 m ol/L 范围内与峰电流成正比。检出限为5.0×10- 6 m ol/L。已用于氯霉素眼药水的测定。用线性扫描和循环伏安法研究体系的性质。实验表明,是注入的Pt催化了氯霉素的还原;体系属准可逆过程。

关 键 词:氯霉素 离子注入 修饰电极 伏安行为

Voltammetric Behaviour of Chloramphenicol at Ion Implantation Modified Electrode Pt/GC and Its determination
HU Jing-bo,SHANG Jun,LI Qi-long. Voltammetric Behaviour of Chloramphenicol at Ion Implantation Modified Electrode Pt/GC and Its determination[J]. Chinese Journal of Analysis Laboratory, 2000, 19(1): 27-29
Authors:HU Jing-bo  SHANG Jun  LI Qi-long
Abstract:
Keywords:Chloramphenicol  ion implantation  modified electrode  voltammetric behaviour  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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