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| 电阻率和霍耳系数的半自动测量系统 | |
| 引用本文： | 马金泉,王万年,何广平.电阻率和霍耳系数的半自动测量系统[J].物理,1984(5). |
| 作者姓名： | 马金泉 王万年 何广平 |
| 作者单位： | 中国科学院半导体研究所 (马金泉，王万年)，中国科学院半导体研究所(何广平) |
| 摘 要： | 对于半导体材料的电阻率和霍耳系数的测量,可以得到标志材料性能的几个重要参数,如电阻率、电子或空穴载流子浓度、霍耳迁移率、补偿度、禁带宽度以及杂质能级位置等.国内过去一直采用电位差计、检流计或数字电压表来测量电压、电流信号,然后再用计算尺或计算器算出它的结果1].此法太费事,不方便. 本工作采用一种新的系统来测量电阻率、霍耳系数等,能大大提高劳动效率、计算快而准确,减少了出错率.它的特点可以概括为以下几个方面: 1.快速、准确、重复性好,而且比较直观. 2.能够在测量中监视中间过程. 3.不仅能打印出最后的结果,而且能记录… |
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