| 解说低能量/光电子显微镜（LEEM/PEEM） |
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| 引用本文： | 郭方准. 解说低能量/光电子显微镜（LEEM/PEEM）[J]. 物理, 2010, 39(03): 211-218. |
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| 作者姓名： | 郭方准 |
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| 作者单位： | 1.中国科学院大连化学物理研究所分子反应动力学国家重点实验室 大连 116023 |
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| 摘 要： | 文章介绍近年来倍受关注的低能量/光电子显微镜(LEEM/PEEM)的基本原理和应用.LEEM/PEEM拥有成像、光电子能谱和衍射功能，可对样品进行综合全面的分析.通过一系列的应用实例，特别是和同步辐射软X射线结合的成果，展示该实验手段在表面科学和纳米技术方面的应用.
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| 关 键 词： | 低能量电子显微镜 光电子显微镜 同步辐射 电子衍射 磁畴 量子点 |
Low energy/photoemission electron microscopy |
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| Low energy/photoemission electron microscopy[J]. PHYSICS, 2010, 39(03): 211-218. |
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| Affiliation: | 1.中国科学院大连化学物理研究所分子反应动力学国家重点实验室 大连 116023 |
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| Abstract: | The rapidly developing field of low energy and photoemission electron microscopy (LEEM/PEEEM) is reviewed. This technology combines microscopy, spectroscopy and diffraction in one system, which allows a comprehensive characterization of the specimen under study. The combination of LEEM/PEEM and soft X-rays in a synchrotron radiation facility is especially powerful for studies in surface science and nano-technology. |
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| Keywords: | low energy electron microscope (LEEM) photoemission electron microscope (PEEM） synchrotron radiation electron diffraction magnetic domain quantum dot |
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