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DO-35微型玻封二极管I_R不稳定浅析
引用本文:王爱荣,王世栋.DO-35微型玻封二极管I_R不稳定浅析[J].半导体技术,1988(4).
作者姓名:王爱荣  王世栋
作者单位:济南半导体四厂 (王爱荣),济南半导体四厂(王世栋)
摘    要:本文简要介绍DO-35微型玻封二极管的反向漏电I_R不稳定的实验情况,分析了该器件I_R不稳定的原,并给出了相应的改进措.

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