DDRⅠ/Ⅱ信号的品质测试 |
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引用本文: | 杜吉伟.DDRⅠ/Ⅱ信号的品质测试[J].电子设计技术,2004,11(10):86-86. |
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作者姓名: | 杜吉伟 |
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作者单位: | 飞兆半导体公司 |
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摘 要: | 鉴于USB(通用串行总线)ASIC控制器的线宽不断变小,迫使物理层从控制器中分离出来,这使得许多系统设计人员认识到物理层独立的重要性.由于业界所需的分立物理层器件能与在较低VCC下工作的USB控制器接口,系统设计人员必须在符合USB2.0标准的系统中正确地引进物理层.
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关 键 词: | USB控制器 物理层 通用串行总线 接口 多系统 器件 系统设计 线宽 ASIC VCC |
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