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| 基于横向莫尔条纹的自准直测角方法 | |
| 作者姓名： | 朱超逸 陆炜鑫 高红 王玫 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院;北京航空航天大学能源与动力工程学院;北京航空航天大学物理学院 |
| 基金项目： | 基础研究培养计划(YWF-15-WLXY-020);北京航空航天大学本科生精品课程(材料物理课程教学改革);北京航空航天大学教学研究与实践项目资助。 |
| 摘 要： | 本文提出了基于横向莫尔条纹的自准直测角方法,用遮光原理分析了莫尔条纹的位移放大作用.并基于该方法搭建了原理光路,得到的莫尔条纹信号稳定且能够满足测量需求.在此基础上对系统进行了定量标定,简化了数据处理步骤,实现了动态测量,系统分辨率达到10″,进一步明确将该方法应用到自准直仪中可以有效提高仪器分辨率. |
| 关 键 词： | 莫尔条纹 自准直测角 高分辨率 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |