首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


A thermal X-RAY and resistivity study of the heusler alloy Cu2NiSn
Authors:W H Schreiner  P Pureur  T A Grandi  J V Kunzler  D E BrandÃO
Institution:(1) Instituto de Fisica, UFRGS, Porto Alegre, Brasil
Abstract:The compound Cu2NiSn was analyzed by DTA, X-ray and electrical resistivity measurements. No single-phase structure was found at room temperature. The alloy decomposes upon heating, starting at 160°, forming copper and two hcp structures. At 500° the Heusler structure is restored. Electrical resistivity results are discussed in terms of Markowitz's theory for disordered metals.
Zusammenfassung Die Verbindung Cu2NiSn wurde durch DTA, Röntgen- und elektrische Widerstandsmessungen analysiert. Keine Einphasenstruktur wurde bei Zimmertemperatur gefunden. Die Legierung zersetzt sich beim Erhitzen ab 160°, wobei Kupfer und zwei hcp-Strukturen gebildet werden. Bei 500° wird die Heusler-Struktur wieder hergestellt. Die Ergebnisse der elektrischen Widerstandsmessungen werden aufgrund der Markowitzschen Theorie für ungeordnete Metalle diskutiert.

Résumé Le composé Cu2NiSn a été examiné par ATD, rayons X et mesures de résistance électrique. A température ambiante on n'a pas trouvé de structure correspondant à une phase unique. L'alliage se décompose par chauffage à partir de 160° en formant du cuivre et deux structures hcp. A 500° la structure Heusler est rétablie. On discute les résultats des mesures de résistance électrique à partir de la théorie de Markowitz pour des métaux désordonnés.

Rcyiecyzcyyucymcyiecy Scyocyiecydcyicyncyiecyncyicyiecy Cu2NiSn bcyycylcyocy icyscyscy lcyiecydcyocyvcyacyncyocy scy pcyocymcyocyshchcysoftcyyucy DcyTcy Acy, rcyiecyncytcygcyiecyncyocyvcyscykcyocyjcy dcyicyfcyfcyrcy acykcytscyicyicy icy icyzcymcyiecyrcyiecyncyicyyacymcyicy ecylcyiecykcytcyrcy icychcyiecyscykcyocygcyocy ucydcyiecylcysoftcyncyocygcyocy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyyacy. Pcyrcyicy kcyocy mcyncyacytcyncyocyjcy tcyiecymcypcyiecyrcyacytcyucyrcyiecy ncyiecy bcyycylcyocy ncyacyjcydcyiecyncyocy ocydcyncyocyfcy acyzcyncyocyjcy scytcyrcyucykcytcyucyrcyycy. Ecytcyocytcy scypcylcyacyvcy pcyrcyicy ncyacygcyrcyiecyvcyacyncyicyicy rcyacyzcylcyacygcyacyiecy tcyscyyacy, ncyacychcyicyncyacyyacy pcyrcyicy 160° icy ocybcyrcyacyzcyucyyacy pcyrcyicy ecytcy ocymcy mcyiecydcysoftcy icy dcyvcyiecy gcyiecykcyscyacygcyocyncy acylcysoftcyncyycyiecy scytcyrcyucykcytcyucyrcyycy scy pcylcyocytcyncyocyjcy ucy pcyacykcyocyvcykcyocyjcy. Pcyrcyicy 500° vcyocyscyscytcyacyncyacyvcylcyicyvcyacyiecy tcyscyyacy scytcyrcyucykcytcyucyrcyacy KHcyiecyscylcyiecyrcy acy. Rcyiecyzcyucylcysoftcytcyacytcyycy ecylcyiecykcytcyrcyicychcy iecyscykcyocygcyocy ucydcyiecylcysoftcyncyocygcyocy scyocypcyrcyocytcyicyvcylcyiecyncyicyyacy ocybcyscyucyzhcy dcyiecyncyycy ncyacy ocyscyncyocyvcyiecy tcyiecyocyrcyicyicy Mcyacyrcykcyocyvcyicypcya dcylcyyacy ncyacyrcyucyshcyiecyncyncyycykhcy mcyiecytcyacylcy lcyocyvcy.


Work supported in part by Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientifico e Tecnologico (CNPq) and Financiadora de Estudos e Projetos (FINEP).
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号