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| 同步辐射X射线和中子粉末衍射及Rietvel精化（Ⅱ） | |
| 引用本文： | 杨传铮,谢达材.同步辐射X射线和中子粉末衍射及Rietvel精化（Ⅱ）[J].物理,1992,21(12):732-740,721. |
| 作者姓名： | 杨传铮 谢达材 |
| 摘 要： | 四、Rietveld方法用于晶体结构研究1.结构精化 对于晶体结构大致已知或已知结构的物相,利用同步辐射X射线或(和)中子粉末衍射数据,经过Rietveld花样拟合结构精化,可获得更精确的晶体结构及结构参数,或证明已知结构的可靠性.图7给出作者之一谢达材对α-Al2O3标准试样的TOF衍射花样拟合和精化后的图形,表明在整个花样中计算与观测符合较好.表2汇总了用各种光源获得的α-Al2O3粉末衍射精化后的结构参数,各种方法也十分一致. 有关期刊和文献大量报道了用Rietveld结构精化方法解决结构大致已知(或提出假设结构模型)的许多物质的结构问题.2.… |
| 关 键 词： | 粉末衍射法 同步辐射 X辐射 结构 |
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