ECRH过程中电子速率分布的变化和加热效果分析

本实验利用两台高性能的硅漂移探测器（SDD）、高速波形A／D和虚拟多道分析器组成探测系统，可获得高时间分辨的软X射线辐射能谱，可以非常直观地观察电子回旋共振加热（ECRH）的效果以及电子速率分布的改变。由于SDD探测器的光峰计数／本底计数比率≥400-3000，因此X射线在探测器中仅有光-空穴和电子对效。