一种测量亚像元CCD拼接误差的方法 |
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引用本文: | 汶德胜,王虎,乔卫东. 一种测量亚像元CCD拼接误差的方法[J]. 应用光学, 2003, 24(1): 40-42 |
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作者姓名: | 汶德胜 王虎 乔卫东 |
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作者单位: | 中国科学院西安光学精密机械研究所,空间光学室,陕西,西安,710068 |
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摘 要: | 提出一种利用高倍率显微计算机系统(由工具显微镜,CCD摄像头、配有图像采集卡的计算机及相关软件等组成)测量亚像元CCD拼接误差的方法,建立了测量模型,并对实测结果进行了统计分析处理。
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关 键 词: | 亚像元CCD 拼接 精密测量 误差 电荷耦合器件 |
文章编号: | 1002-2082(2003)01-0040-03 |
收稿时间: | 2002-03-29 |
METHOD FOR ALIGNMENT MEASUREMENT OF A SUBPIXEL CCD FOCAL-PLANE ASSEMBLY |
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Abstract: | A high magnification microscopic computer system for measuring the alignment error of the subpixel CCD mosaiced is presented in this paper.The system consists of a high magnification microscope, a CCD camera,a computer with image grabber and relevent software.The measurement process is theoretically modeled.The statistical analysis and processing of the practical measurement results are carried out. |
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Keywords: | subpixel CCD linear CCD mosaic precision measurement measurement error |
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