基于FCM的芯粒测试电路设计与实现

设计了一种改进的2.5D芯粒可测性电路，电路的核心是位于中介层的灵活可配置模块（Flexible configu?rable modules,FCM），该模块基于IEEE 1838标准提出的灵活并行端口设计，采用双路斜对称设计结构，水平方向的两条线路可同时向左和向右传输控制信号以及测试数据，彼此独立互不干扰。与IEEE 1838灵活并行端口相比，FCM可以简化扫描测试配置步骤，满足水平双线路传输场景需求。仿真结果表明，基于FCM设计的2.5D芯粒测试电路可以实现对原有可测性设计（Design for test,DFT）测试逻辑的复用，满足芯粒即插即用的策略，提升测试的灵活性和可控性。