摘 要: | 通过对 25MeV/u40Ar+115 In反应 θlab= 15°的邻近几何条件下的轻带电粒子和出射碎片之间的关联测量,观察到了两体相继衰变机制的存在.其中,轻带电粒子和碎片的关联角度谱在小角度成峰,最可几角度约2°左右;轻带电粒子能谱峰位,随关联对的质量增加而逐渐增高;质量较轻的原始产物容易受到激发,通过发射轻带电粒子而衰变成轻中等质量碎片.在两体相继衰变中,原始激发产物发射重质量的轻带电粒子的产额或几率要大于质量轻的轻带电粒子,具体测量发现,与轻带电粒子11,21H,31H和a粒子关联的碎片(Zf=4—14)总的产额比为1:1.3:1.78:7.57.
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