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| Offner型成像光谱仪波长使用范围和光谱分辨率研究 | |
| 引用本文： | 裴梓任,黄元申,张大伟,韩姗,瑞金,倪争技.Offner型成像光谱仪波长使用范围和光谱分辨率研究[J].光子学报,2014,43(7):730004. |
| 作者姓名： | 裴梓任 黄元申 张大伟 韩姗 瑞金 倪争技 |
| 作者单位： | 裴梓任:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 黄元申:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 张大伟:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 韩姗:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 瑞金:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 倪争技:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，教育部光学仪器与系统工程中心上海市现代光学系统重点实验室，上海 200093 |
| 基金项目： | 科技部重大科学仪器专项（Nos.2011YQ15004002,2011YQ15004004，2011YQ14014704）、国家自然科学基金(Nos.61205156，61378060)和上海市教委曙光项目（No.11SG44）资助 |
| 摘 要： | 研究了Offner型成像光谱仪消像差结构的参量和性能.用几何法推导出Offner型成像光谱仪的波长使用范围、系统线色散以及光谱分辨率的计算公式;在理想像差条件下,分析了Offner型成像光谱仪光谱分辨率与入射狭缝的宽度、凸面光栅分辨率和探测器像元尺寸各个因素之间的关系;探讨了提高光谱分辨率采用的方法和技术,解决了光谱仪的各个参量和光谱分辨率之间的矛盾.研究表明:当系统像差很小可忽略时,通过减小狭缝宽度,有利于提高光谱分辨率;Offner型成像光谱仪的分辨率由入射狭缝宽度、光栅和CCD像元尺寸三者中分辨本领最低的参量确定. |
| 关 键 词： | 光栅光谱仪 波长范围 光谱分辨率 凸面光栅 Offner结构 |
| 收稿时间： | 2013/11/6 |
Research of Wavelength Range and Spectral Resolution for Offner Imaging Spectrometer |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Grating spectrometer Wavelength range Spectral resolution Convex grating Offner configuration |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |