| ZnSe衬底表面亚波长增透结构的设计及误差分析 |
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| 引用本文： | 尚鹏,熊胜明. ZnSe衬底表面亚波长增透结构的设计及误差分析[J]. 中国激光, 2014, 41(1): 116004 |
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| 作者姓名： | 尚鹏 熊胜明 |
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| 作者单位： | 尚鹏:中国科学院光电技术研究所, 四川 成都 610209中国科学院大学, 北京 100049
熊胜明:中国科学院光电技术研究所, 四川 成都 610209
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| 摘 要： | 以矢量严格耦合波(RCWA)理论为基础,通过遗传算法优化设计了圆柱形ZnSe亚波长微增透结构,获得了具有较好增透效果的结构参数;重点讨论分析了实际加工过程中圆柱形方向偏差及整体面形轮廓偏差对抗反射特性的影响;还对多台阶ZeSe增透性能随高度的变化进行了分析。结果表明:当圆柱形微结构周期为3.3μm,高度为1.7517μm,占空比为0.7566时,在8~14μm波段范围具有较好的整体增透效果;占空比偏差,高度偏差及圆柱体面形轮廓偏差对结构的平均透射性能都具有较大的影响;圆锥形ZnSe微结构的透射性能随着高度和划分层数的增加呈现一定的规律分布,且相比圆柱形最优微结构,平均透射性能有了较大幅度的提高。
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| 关 键 词： | 衍射 增透结构 耦合波理论 ZnSe 亚波长 |
| 收稿时间： | 2013-05-24 |
Design and Error Analysis of Sub-Wavelength Antireflective Micro-Structure on Surface of ZnSe Substrate |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | diffraction antireflection coupled-wave theory ZnSe sub-wavelength |
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