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| 继电器的耐久性寿命试验及其寿命分布规律 | |
| 引用本文： | 朱国良.继电器的耐久性寿命试验及其寿命分布规律[J].电子产品可靠性与环境试验,1994(1):35-40. |
| 作者姓名： | 朱国良 |
| 作者单位： | 航空航天部天义电工厂 |
| 摘 要： | 本文以某一继电器的耐久性寿命试验为例,探索了继电器的寿命分布规律,用最小二乘法按威布尔分布进行了拟合,并进行了假设检验,然后用最好线性无偏估计(BLUE)得出了该继电器寿命特征的估计值。 |
| 关 键 词： | 继电器 可靠性 寿命试验 寿命分布 |
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