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CMOS器件电离辐射损伤等效研究中损伤敏感性的确定

引用本文：	何承发,周光文.CMOS器件电离辐射损伤等效研究中损伤敏感性的确定[J].科技通讯（乌鲁木齐）,1990(28):20-26.

作者姓名：	何承发周光文

摘要：
关键词：	损伤等效损伤敏感性电离辐射 CMOS
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