| 银纳米微粒共振散射光谱法测定羟基自由基及其应用 |
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| 引用本文： | 梁爱惠,张南南,蒋治良,刘荣进.银纳米微粒共振散射光谱法测定羟基自由基及其应用[J].中国科学B辑,2008,38(1):35-42. |
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| 作者姓名： | 梁爱惠 张南南 蒋治良 刘荣进 |
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| 作者单位： | 桂林工学院材料与化学工程系 有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室，桂林工学院材料与化学工程系，有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室，桂林工学院材料与化学工程系，有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室，桂林工学院材料与化学工程系，有色金属及材料加工新技术教育部重点实验室，桂林541004，桂林541004，桂林541004，桂林541004 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号:20667001,20365001)，广西自然科学基金(批准号:0728213)，广西新世纪十百千人才工程资助. |
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| 摘 要： | 以柠檬酸三钠做还原剂，采用微波高压法制备了银纳米微粒。用高速离心纯化除去过量的柠檬酸三钠获得了纯银纳米微粒。纯银纳米微粒的共振散射峰位于470nm处。在pH4.0的HAc-NaAc缓冲溶液中，Fenton反应产生的羟基自由基可氧化银纳米微粒生成银离子，导致470nm处的共振散射光强度降低。过氧化氢的浓度在0.27-7.56gmol／L范围内与银纳米微粒470nm处的共振散射强度降低值△I470nm呈良好的线性关系，回归方程为△I470nm=24.3C＋13.8，相关系数为0.9959，检出限为0.23μmol／L。该方法用于筛选羟基自由基的清除剂，获得了满意的结果。
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| 关 键 词： | 微波高压 银纳米微粒 羟基自由基 Fenton反应 共振散射 |
| 收稿时间： | 2007-06-19 |
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