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Bestimmung kleiner Tellur-Gehalte in Kupfer und Kupfer-Legierungen mit verschiedenen Methoden nach Abtrennung durch Mitf?llung an Arsen
Authors:P Grünwald  P Tsch?pel and G T?lg
Institution:(1) Max-Planck-Institut für Metallforschung, Institut für Werkstoffwissenschaften, Laboratorium für Reinststoffe, Stuttgart und Schwäbisch Gmünd
Abstract:Zusammenfassung Für die Bestimmung von Nanogramm-Mengen Tellur (Gehalte ge 1 ppb) in Kupfer- und Kupferlegierungen werden als Methode die Röntgenfluorescenzspektrometrie, die Atomabsorptionsspektrometrie mit Flammen- und flammenloser Anregung und die Spektralphotometrie des Te-DDTC-Komplexes bei 423 und 259 nm in ihrer Leistungsfähigkeit verglichen. Die Abtrennung der Tellurspuren erfolgt nach dem Lösen der Probe in konz. HNO3 durch Mitfällung an elementarem Arsen. Die Bestimmung erfolgt entweder direkt im As-Niederschlag oder nach weiterer Abtrennung durch Ausschütteln als Diäthyldithiocarbamat.Arbeitsbereiche und Standardabweichungen werden in einer Tabelle angegeben.Wir danken Herrn Professor Dr. -Ing. H. Pohl, Bundesansult für Materialprüfung, Berlin, für die freundliche Überlassung der Analysenkontrollproben.
Keywords:Best  von Tellur in Kupfer  Kupferlegierungen    ntgenfluorescenz-Spektrometrie/Spektralphotometrie  Atomabsorption/Spektralphotometrie  Mitfä  llung an Arsen
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