二维二氧化硅/金球腔微电极阵列的组装及对痕量铅的电化学检测 |
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引用本文: | 苏伟,钟国彬,任建新,任鉴民,刘燕,明海,郑军伟.二维二氧化硅/金球腔微电极阵列的组装及对痕量铅的电化学检测[J].吉林大学学报(理学版),2016,54(6):1422-1428. |
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作者姓名: | 苏伟 钟国彬 任建新 任鉴民 刘燕 明海 郑军伟 |
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作者单位: | 1. 广东电网有限责任公司 电力科学研究院, 广州 510080; 2. 苏州大学 物理与光电·能源学部, 江苏 苏州 215006 |
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摘 要: | 利用自组装的聚苯乙烯微球单层模板和脉冲电沉积法组装二维二氧化硅/金球腔微电极阵列, 并用方波脉冲伏安法对其性能进行测试. 结果表明, 当Pb(Ⅱ)的质量浓度为0~100 μg/L时, 电极响应与离子质量浓度呈线性关系, 灵敏度为0.070 35 μA·L/μg(S/N=3), 检测极限为0.3 μg/L, 且抗Cu(Ⅱ)的干扰能力较强.
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关 键 词: | 电化学检测 电化学沉积 痕量铅检测 微电极阵列 |
收稿时间: | 2015-11-26 |
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