| 电子束电偏转实验中亮斑的线度研究 |
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| 引用本文： | 陈杰,朱占武,张琴,刘国营,张西平,吴云沛. 电子束电偏转实验中亮斑的线度研究[J]. 大学物理, 2017, 36(8). DOI: 10.16854/j.cnki.1000-0712.2017.08.0011 |
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| 作者姓名： | 陈杰 朱占武 张琴 刘国营 张西平 吴云沛 |
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| 作者单位： | 湖北汽车工业学院 理学院,湖北 十堰,442002 |
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| 基金项目： | 校质量工程项目，湖北省教育厅项目 |
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| 摘 要： | 从理论上研究了"电子束电偏转实验"中亮斑的形成原因及其线度的影响因素,推导出电子流偏转总量x、亮斑线度Δ的表达式,并进行了数值模拟.研究结果表明,亮斑是由射入偏转电场的锥形电子束(其锥角Δθ实为一很小的量)引起,而造成Δ随加速电压U_1、偏转电压U_x变化的原因是由于Δθ关于偏转电场中心轴(z轴)的不对称分布.Δ的大小还取决于Δθ的大小.
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| 关 键 词： | 电子束 电偏转 亮斑线度 |
The length study of bright spots in the electric deflection of electron beam |
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| CHEN Jie,ZHU Zhan-wu,ZHANG Qin,LIU Guo-ying,ZHANG Xi-ping,WU Yun-pei. The length study of bright spots in the electric deflection of electron beam[J]. College Physics, 2017, 36(8). DOI: 10.16854/j.cnki.1000-0712.2017.08.0011 |
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| Authors: | CHEN Jie ZHU Zhan-wu ZHANG Qin LIU Guo-ying ZHANG Xi-ping WU Yun-pei |
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