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Y沸石中的正电子湮没
作者姓名:高滋  杨雪敏  潘思忠  高本祥  戚盛勇  王煜
作者单位:复旦大学化学系(高滋,杨雪敏,潘思忠,高本祥),复旦大学物理系(戚盛勇),复旦大学物理系(王煜)
摘    要:本文测量了NaY、HY和NH_4Y在不同抽空温度下的正电子寿命谱,得到了四个寿命组份,并对它们的归属进行了讨论。其中两个长寿命组份τ_s和τ_4归结为沸石内表面和笼内o-Ps的湮没。o-Ps容易被沸石内的质子酸氧化,而使其湮没寿命τ_3和τ_4缩短。利用正电子寿命谱可以监测NH_4Y沸石的脱氨过程。质子酸的存在对o-Ps的形成并无影响,但随着质子酸浓度增加,o-Ps在沸石内表面湮没的几率大于笼内,故I_3大于I_4。o-Ps的在沸石内表面和笼内的湮没速率与质子酸浓度成线性关系,以一级反应动力学处理得到的o-Ps在沸石内表面和笼内的氧化反应表观速率常数分别为9.67×10~7(mmol/g)_~(-1)s~(-1)和2.36×10~7(mmol/g)~(-1)s~(-1)。

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