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| 基于ECC校验算法的记录器设计 | |
| 作者姓名： | 杜东海 李锦明 程龙 丁宁 |
| 作者单位： | 中北大学 电子测试国家重点实验室;仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051,中北大学 电子测试国家重点实验室;仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051,中北大学 电子测试国家重点实验室;仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051,中北大学 电子测试国家重点实验室;仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 太原 030051 |
| 摘 要： | 鉴于K9MDG08U5M在存储过程中出现的错“位”现象,提出利用ECC算法对数据进行校验和纠错。由于该款NAND FLASH一页数据出现的错“位”现象有时不止一位,而一般的ECC算法其纠错能力只有1 bit/4 kB,故一种纠错能力更强的新型算法将被设计和实现；该新型算法具有8 bit/4 kB的纠错能力和16 bit/4 kB的检错能力,且已成功应用于某数据采集存储系统中。 |
| 关 键 词： | 错误检查和纠错算法 现场可编程逻辑阵列 与非型闪存 |
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