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Origin of Electron and Hole Charging Current Peaks in Nanocrystal-Si Quantum Dot Floating Gate MOS Structure
Authors:HUANG Jian  CHEN Kun-Ji  FANG Zhong-Hui  GUO Si-Hua  WANG Xiang  DINGHong-Lin  LI Wei  HUANG Xin-Fan
Affiliation:National Laboratory of Solid State Microstructures and Department of Physics, Nanjing University, Nanjing 210093
Abstract:
Keywords:73.63.Kv  73.40.Qv  73.43.Jn
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