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| 电场调制反射光谐及其在固体研究中的应用 | |
| 引用本文： | 王若桢, 赵明山. 电场调制反射光谐及其在固体研究中的应用[J]. 物理, 1988, 17(4). |
| 作者姓名： | 王若桢 赵明山 |
| 作者单位： | (1)京师范大学物理系;(2)山东曲阜师范大学 |
| 摘 要： | 电场调制反射光谱（简称ｅｌｅｃｔｒｏｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ或ＥＲ）是进行半导体能带结构研究和材料鉴定的重要手段．１９６４年，Ｓｅｒａｐｈｉｎ［１］首次观测到与Ｇｅ的基本吸收边Ｅ０有关的ＥＲ谱结构．七十年代初，ＥＲ谱已成为研究半导体材料性质的有效手段．七十年代后期，随着近代光谱技术的蓬勃发展和各种大型谱仪的出现，ＥＲ谱曾一度出现了停滞的状况．高近两年的研究发现，调制光谱方法在研究半导体超晶格和?... |
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