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基于CCD成像方法的激光束近场光强分布测试技术?
作者姓名:田英华  叶一东  向汝建  关有光
作者单位:1.中国工程物理研究院 高能激光科学与技术重点实验室, 四川 绵阳 621 900;
基金项目:国家高技术发展计划项目
摘    要:激光束近场光强分布是影响激光束特性的重要参数之一,为了使目前激光束近场光强分布的评价更加合理和科学化,对CCD直接测量法和漫反射屏测量法两种测量方法进行了研究,并分析了材料不同的漫反射屏对测量结果的影响。研究结果表明,漫反射屏材料的不同对测量结果有较大影响,并且漫反射屏测量法存在的散斑对测量结果影响也较大。两种测量方法比较表明CCD直接测量法测得结果更加客观,与真实值更加接近。

关 键 词:近场   光强分布   测试   漫反射   散斑
收稿时间:2013-12-20
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