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扫描电镜非最佳条件操作考察
引用本文:任艳军,秦素平.扫描电镜非最佳条件操作考察[J].分析测试技术与仪器,2008,14(1):59-61.
作者姓名:任艳军  秦素平
作者单位:河北科技师范学院,分析测试中心,河北,秦皇岛,066004
基金项目:河北科技师范学院青年基金资助项目
摘    要:扫描电镜在非最佳的条件下工作仍能获得有用的信息,尤其是样品导电性差,又不便喷金,还要尽可能将样品原来的面貌保存下来取得高质量照片的时候,其效果显著.

关 键 词:扫描电镜  非最佳操作  低加速电压  低束流
文章编号:1006-3757(2008)01-0059-03
收稿时间:2007/12/27 0:00:00
修稿时间:2007年12月27

Study on Scanning Electron Microscope Working at Nonoptimum Observation Conditions
REN Yan-jun and QIN Su-ping.Study on Scanning Electron Microscope Working at Nonoptimum Observation Conditions[J].Analysis and Testing Technology and Instruments,2008,14(1):59-61.
Authors:REN Yan-jun and QIN Su-ping
Institution:REN Yan-jun, QIN Su-ping (Analysis and Testing Centre of He Bei Normal University of Science&Technology, Qinhuangdao 066004, China)
Abstract:Scanning electron microscope working at nonoptimum observation conditions can also provide useful information.This effect is especially notable when the samples are nonconductive and not proper to evaporate Au or C.Under the proposed condition the microstructures of the specimen surface were reserved.Satisfactory photos were obtainable.
Keywords:SEM  nonoptimum conditions  low accelerating voltage  low emission current
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