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| PLD测试向量应用于IC测试 | |
| 引用本文： | 余圣发,董兆鑫.PLD测试向量应用于IC测试[J].湖南通信技术,1995(2):76-78. |
| 作者姓名： | 余圣发 董兆鑫 |
| 摘 要： | 专用芯片的测试通常对于一般用户是不可能的，但又是非常必要的，本文讲述了以ＡＬＬ－０３通用编程器为基础对某些专用芯片进行测试的原理和方法。 |
| 关 键 词： | 集成电路 测试 可编程逻辑器件 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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