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系统电磁脉冲边界层准稳态特性研究
引用本文:周辉,程引会,李宝忠,吴伟.系统电磁脉冲边界层准稳态特性研究[J].强激光与粒子束,2001,13(1):72-75.
作者姓名:周辉  程引会  李宝忠  吴伟
作者单位:西北核技术研究所, 陕西 西安 710024
基金项目:国家防科技基础研究基金资助课题
摘    要: 对黑体谱脉冲X射线入射到系统材料上发射的光电子的行为及其准稳态成立的条件进行讨论,研究了系统电磁脉冲(SGEMP)边界层中光电子参数和电场的准稳态特性,给出的公式,可以方便地获得SGEMP边界层的主要参数,如电子密度、电子分布、表面电场及其分布等。最后给出了一个计算实例。

关 键 词:脉冲X射线  光电发射  系统电磁脉冲  边界层  准稳态
文章编号:1001—4322(2001)01—0072—04
收稿时间:2000/6/25
修稿时间:2000年6月25日

Characteristics of steady-state SGEMP boundary layer
THOU Hui,CHENG Yin-hui,LI Bao-zhong,WU Wei.Characteristics of steady-state SGEMP boundary layer[J].High Power Laser and Particle Beams,2001,13(1):72-75.
Authors:THOU Hui  CHENG Yin-hui  LI Bao-zhong  WU Wei
Institution:Northwest Institute of Nuclear Technology, P.O.Box 69-13, xi’an 710024, china
Abstract:The useful boundary layer properties are discussed when an X-ray pulse is incident on common materials. Two characteristic times are given to determine whether steady-state theory is applicable. With expressions given in the paper, parameters of boundary layer, such as electron density, electric fields and their profile with distance, can be calculated expediently. An example is discussed to illustrate the use of these expressions.
Keywords:X-ray pulse  photoemission  SGEMP  boundary layer  steady-state
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